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一、仪器用途
本仪器能完成对多晶样品进行物相检索分析、物相定量分析、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算和固溶体分析、结构精修以及结构解析；薄膜掠射衍射测试；薄膜反射率计算厚度、密度和粗糙度；单晶及单晶外延薄膜结晶完整性分析，外延薄膜的组分、弛豫度等参数的测定。且配备了原位高温台和原位电池结构测试系统。
二、主要技术参数
送样测试或培训合格后自行上机测试。
1. X光管类型：陶瓷X光管，Cu靶；X光管最大功率：≥2.2 kW。
2. 衍射光路系统：
自动狭缝系统：变化范围不小于5mm；
单色器：分辨率≤20弧秒；
自动狭缝与单色器集成于同一系统，采用计算机控制，自动切换，无需手动更换。
3. 样品台：
高精度尤拉环样品台：其中PHI,CHI,Z轴为马达控制全自动控制。能同时满足常规粉末样品分析、薄膜分析、织构、应力、微区分析而无需更换样品台。
标准样品台：可放置样品厚度>18mm，样品尺寸直径≥50mm。
4. 高温原位分析附件：温度范围:室温-1200℃，可在真空，情性气氛/大气氛围下工作。
5. 电池原位分析附件： 电池原位分析附件，带充放电及升/降温功能；电池原位分析附件温度范围：-30℃ -- +80℃。
三、预约说明
送样测试或培训合格后自主上机。
四、样品要求
1. 不测试有毒性、腐蚀性样品；
2. 样品可为粉末状、块状或其他形状；块状样品要求测试面清洁平整。
