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一、仪器用途

X射线衍射仪主要用于多晶样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析晶粒分析、结构分析等。

二、主要技术参数：

1. 高压发生器最大输出功率：600W；

2. 扫描方式:theta/theta 立式测角仪。样品水平放置，测量过程中样品不会倾斜；

3. 测角仪半径：160mm；

4. 2θ转动范围：-3°~ 145°；

5. 最小步长：0.005°；

6. 半导体阵列探测器。

三、预约说明：

送样测试或培训合格后自行上机测试。

四、样品要求：

粉末样品磨到200目，放到测试样品台中间位置，用玻璃片铺满压平。